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《中国电气工程学报》
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2024年17期
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电子元件硫污染腐蚀机制剖析及多元防护策略研究
电子元件硫污染腐蚀机制剖析及多元防护策略研究
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摘要
摘要:随着电子产业的迅猛发展,电子元件的可靠性面临诸多挑战,其中硫污染腐蚀问题愈发突出。本文深入探究电子元件硫污染腐蚀的内在机制,从化学、物理等多层面解析其发生过程,在此基础上,综合提出涵盖材料改进、环境控制、防护涂层应用等多元防护策略,旨在为提升电子元件抗硫腐蚀能力、保障电子产品质量与寿命提供理论支撑与实践指导。
DOI
3j7mxnz6qj/8910129
作者
李明锋
机构地区
合肥琪锋光电科技有限公司 安徽合肥 230088
出处
《中国电气工程学报》
2024年17期
关键词
电子元件
硫污染腐蚀机制
多元防护
分类
[文化科学][]
出版日期
2025年01月24日(期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国电气工程学报
2024年17期
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